大学院理工学研究部　ナノ・新機能材料学域・教授
　工学部　電気電子システム工学科		  
   

　山下 正人　masato yamashita　1949年生

  
    　E-mail: myama＠eng.u-toyama.ac.jp　  
    　TEL　076-445-6337  
    　FAX　076-445-6337  
   
　　
  

　●専門分野
　非破壊検査　数値計算
 
　●研究テーマ
　１）抵抗率を正確に求めるための補正係数の計算と応用
　２）円筒材料のエルボ部の電位分布の解析
　３）円筒材料の肉厚の非破壊測定
　４）四探針法による円柱材料の焼入れ深度の非破壊測定
 
　●キーワード
　四探針法　抵抗率補正係数　ポアソン方程式　非破壊検査
 
　●相談可能分野

【技術相談】
　１）抵抗率の測定技術について
【共同研究】
　１）電位差法（四探針法）による金属円筒材料の肉厚測定器の開発
【特許権】
　出願番号/209988(USA),88401838(GER,GBR,FRA),7741/1988(KOR)
　出願番号/特願昭62-204085
　出願番号/000230679(USA)
　出願番号/081100621(EPO,FRA,GBR,GER)
　出願番号/特願昭56-090910
【講演等】
　１）抵抗率の測定に関する技術的・理論的背景について
【地域連携・社会貢献】
（財）高分子素材センター高機能性高分子材料本委員会委員
（財）高分子素材センター中抵抗試験方法分科会会長

 
　●自己ＰＲ

　各種形状の材料に対応した抵抗率補正係数を解析的に導き、その正確性を実験的に
検証した。この成果を活かして市販用の抵抗率測定器を開発した。電位差法（四探針
法）を応用して円筒材料の肉厚を非破壊測定する方法を開発した。
 
　●経歴等

　１）M. Yamashita, Measuring resistivity of hollow onducting cylinders with a four-probe array, Measurement Science and Technology, 17 (2006) 3323.
　2)M. Yamashita, T. Nishii and H. Mizutani, Resistivity Measurement by Dual-Configuration Four-Probe Method, Japanese Journal of Applied Physics, 42(2003) 695.
　3)山下, 西井ほか, 導電性プラスチックの４探針法による抵抗率試験方法（JISK 7194）, 日本規格協会(1994).
　4)M. Yamashita and Y.Oana, Barrier metal against Ga and Zn out-diffusion in p-GaP/Au:Zn contact system, Journal of Applied Physics, 52 (1981) 7304.
　5)M. Yamashita and Y. Amemiya, Effect of Substrate Surface on Alignment of Liquid Crystal Molecules, Japanese Journal of Applied Physics, 15 (1976) 2087.